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温度冲击试验箱


型号:GDW-CJ

描述: 一、产品介绍: 温度冲击试验箱用途用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯

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温度冲击试验箱详细说明

 YI、CHANPINJIESHAO:

 温度冲击试验箱用途用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
 
 二、 温度冲击试验箱满足标准
1、GB2423.1-89 试验A低温试验方法
2、GB2423.2-89 试验B高温试验方法
3、GB2423.22-89 试验N温度变化试验方法
4、GJB150.3-86 高温试验  
5、GJB150.4-86 低温试验方法  
6、GJB150.5-86 温度冲击试验  
7、产品执行标准  
   GB10589-89 低温试验箱技术条件  
   GB11158-89 高温试验箱技术条件  
   GB10592-89 高、低温试验箱技术条件
 
三、技术参数:
(以下指标均在常压、空载条件情况下测试。) 
标准机型:30/50/64/80/150/225/408L (尺寸可按需定制)
温度范围: 高温箱+60℃~200℃  低温箱-70~-10℃  
温度波动度:±0.5℃  
温度误差:≤±2℃  
升温速率:30℃~+150℃ ≤30min  
降温速率:+30℃~-70℃ ≤95min    
样品转换时间:10s内
温度恢复时间: +150℃~-40/℃温度冲击恢复时间,≤5min 
                       -40℃~+150℃温度冲击恢复时间,≤5min 
试验状态:-20/-40/60 ~ 80℃  
温度冲击恢复时间以传感器测试位置为准 电 源:380V、50HZ;三相五线制.
 
 
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